Einsatzbereite Halbleitertestaufbauten verkürzen die Kalibrierungszeit und helfen Forschern, vom Prototyp bis zur Produktion konsistente Ergebnisse zu erzielen.
Das Testen neuer Halbleiterbauelemente wie Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN) erfordert häufig komplizierte Aufbauten, deren Aufbau und Kalibrierung Zeit in Anspruch nehmen.Ingenieure und Forscher benötigen beim Testen genaue Ergebnisse, um zuverlässige Produkte zu entwickeln.
Die Microtest Group bringt zwei neue Testsysteme auf den Markt: Quasar200 und Pulsar600. Diese Testwerkzeuge lösen das Problem der komplizierten Einrichtung mit Plug-and-Play, sodass Benutzer mit dem Testen von Leistungshalbleitergeräten beginnen können, ohne kundenspezifische Prüfstände bauen oder komplexe Verkabelungen vornehmen zu müssen.Dies hilft Laboren und Ingenieuren, Zeit zu sparen und gleichzeitig zuverlässige, wiederholbare Daten zu sammeln.
Der Quasar200 ist für die Prüfung von Standard- und Mittelklasse-Leistungshalbleiterbauelementen aus Silizium (Si), Galliumnitrid (GaN) und Siliziumkarbid (SiC) konzipiert.Der Schwerpunkt liegt auf präzisen Gleich- und Wechselstrommessungen und eignet sich daher für Laborforschung, Gerätecharakterisierung und Datenblattentwicklung.
Der Pulsar600 ist für Hochstrom- und Hochleistungstests konzipiert, insbesondere für SiC-basierte Wechselrichter und Automobilsysteme.Es unterstützt Kurzschluss- und Belastungstests bis zu 1.000 A DC und über 10.000 A AC und unterstützt Ingenieure bei der Validierung der Leistung und Sicherheit von Leistungsmodulen der nächsten Generation, die in Elektrofahrzeugen und Industrieanwendungen eingesetzt werden.
Die Systeme messen, wie sich Halbleiterbauelemente unter hohem Strom und hoher Spannung verhalten.Quasar200 wurde zum Testen von Silizium-, GaN- und SiC-Geräten entwickelt, die in Elektronik- und Stromversorgungssystemen verwendet werden.Es führt schnelle und genaue DC- und AC-Messungen mit geringer Interferenz durch.Pulsar600 erweitert diese Fähigkeit auf Anwendungen mit sehr hohen Strömen, wie z. B. Automobil- und Wechselrichtertests, die bis zu 1.000 Ampere Gleichstrom und über 10.000 Ampere Wechselstrom verarbeiten.
Beide Systeme führen detaillierte Prüfprotokolle zur Verfolgung der Datengenauigkeit.Dadurch können Forscher und Unternehmen bei der Entwicklung von Datenblättern oder der Qualifizierung neuer Geräte Laborergebnisse mit Produktionstests auf Fabrikebene abgleichen.
Sicherheit ist in beiden Systemen eingebaut.Dazu gehören geschlossene Testbereiche und der SocketSafe-Schutz von ipTEST, der die Stromversorgung trennt, wenn Geräte geöffnet werden oder Fehler auftreten.Sockel mit niedriger Induktivität reduzieren elektrisches Rauschen und verbessern so die Teststabilität.
Hauptmerkmale
Plug-and-Play-Setup: Einsatzbereite Testsysteme, die maßgeschneiderte Prüfstände oder Lötverbindungen überflüssig machen.
Breite Geräteunterstützung: Kompatibel mit Geräten aus Silizium (Si), Galliumnitrid (GaN) und Siliziumkarbid (SiC).
Hochstromfähigkeit: Unterstützt Ultrahochstromtests bis zu 1.000 A DC und 10.000 A+ AC, geeignet für SiC-Wechselrichter und Automobilsysteme.
Messgenauigkeit: ±0,1 % Genauigkeit über alle Spannungs- und Stromwellenformen.